納米壓痕測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
對(duì)小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-09-16

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測(cè)試

體微缺陷測(cè)試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測(cè)試 CV測(cè)試系統(tǒng)集成測(cè)試儀器租賃

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顯微熒光成像系統(tǒng)能夠在微觀尺度上揭示生物和化學(xué)過(guò)程的細(xì)節(jié)

快速化學(xué)成像：共聚焦拉曼光譜儀的應(yīng)用

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Features:

測(cè)試參數(shù):彈性模量，硬度，屈服強(qiáng)度，儲(chǔ)存和損耗模量，斷裂韌性，劃痕和磨損性能

Capability :

側(cè)向力(劃痕測(cè)試模塊)

原子力顯微鏡

有限元分析集成模塊

納米壓痕測(cè)試設(shè)備

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

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