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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

光探測(cè)磁共振譜超快瞬態(tài)吸收拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀高光譜測(cè)試系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測(cè)器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺(tái) 熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測(cè)試系統(tǒng) 漫反射率測(cè)試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計(jì) 標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo) 電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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顯微分光膜厚儀的智能化功能與操作體驗(yàn)

顯微分光膜厚儀是一種高精度的測(cè)量?jī)x器

你知道半導(dǎo)體激光器發(fā)射激光必須具備哪些條件嗎

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置。 ●適用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。

更新時(shí)間：2025-09-16

產(chǎn)品型號(hào)：

瀏覽量：753
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。

更新時(shí)間：2025-09-16

產(chǎn)品型號(hào)：

瀏覽量：620
Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300

●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊 ●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對(duì)齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元

更新時(shí)間：2025-09-16

產(chǎn)品型號(hào)：

瀏覽量：690
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

更新時(shí)間：2025-09-16

產(chǎn)品型號(hào)：ELSZ-2000系列

瀏覽量：7514
熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)

QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)瞬間測(cè)量絕.對(duì)量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測(cè)量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。

更新時(shí)間：2025-09-16

產(chǎn)品型號(hào)：QE-2000

瀏覽量：2410

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